SJ/T 11706-2018 半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法
标准编号：SJ/T 11706-2018
标准名称：半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法
语 言：简体中文版、英文版
发布日期： 实施日期：
标准状态：现行
标准介绍：【SJ/T 11706-2018 半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法】本标准规定了SRAM型现场可编程门阵列（FIELD PROGRAMMABLE GATE ARRAY，以下简称FPGA）的电参数测试方法。
标准类别：SJ电子标准
授权方式：免费下载
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标准关注次数：
添加日期：2018-03-21 13:00:32
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更新时间：2018-03-21 13:00:32
