SJ/T 11705-2018 微电子器件封装的地和电源阻抗测试方法
标准编号：SJ/T 11705-2018
标准名称：微电子器件封装的地和电源阻抗测试方法
语 言：简体中文版、英文版
发布日期： 实施日期：
标准状态：现行
标准介绍：【SJ/T 11705-2018 微电子器件封装的地和电源阻抗测试方法】本标准规定了复杂、宽频带微电子器件用封装的地和电源引出端的串联阻抗测试方法。
本标准适用于评估和比较不同封装之间性能的差异，并可用于预测封装对电源噪声和地噪声引入程度的影响。
标准类别：SJ电子标准
授权方式：免费下载
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标准关注次数：
添加日期：2018-03-21 13:00:36
相关查询：阻抗 微电子 封装 器件 电源 测试 方法
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更新时间：2018-03-21 13:00:36
